Optris PI 640i – Baskılı devre kartlarının kontrolü için mikroskop optiği

Optris PI 640i infrared kameralar için geliştirilen yeni mikroskop optiği, baskılı devre kartlarında kesin ve güvenilir sıcaklık ölçümünü mümkün kılar. Bu esnada hem tüm devre kartı hem de ayrıntılı makro çekimler 28 μm’lik bir çözünürlükle odaklanabilir. Kamera ile obje arasındaki ölçüm mesafesi 80 ile 100 mm arasında değişmektedir.

Teslimat kapsamında bulunan yüksek kaliteli masa konsolu, kameranın her zaman hassas şekilde ayarlanmasına olanak verir.

Önemli parametreler:

• Küçük bileşenlerin 28 µm çözünürlüğe kadar analizi

• Eş zamanlı elektrik testi ve termal analiz

• 80 mK Sıcaklık çözünürlüğü (NETD) ile

 

Mikroskop optiğinin kullanım alanları:

Optris infrared mikroskop optiği, hem komple baskılı devre kartlarının termal analizine hem de münferit unsurların detaylı makro çekimine olanak tanır. Kameraların çok iyi termal ve geometrik detay çözünürlüğü en küçük sıcaklık farklarını gösterir ve böylece elektronik ürünlerin etkin ve hassas bir şekilde test edilmesini sağlar.

Testteknik bülteni ile her zaman güncel kalın. Bültenimiz için şimdi kaydolun.